杂讯信号相位Anritsu更新通用型测量仪器MS269xA系列_我的网站

杂讯信号相位Anritsu更新通用型测量仪器MS269xA系列

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Anritsu公司近日更新其高精确度的通用型测量仪器MS269xA系列,增加3D频谱分析仪功能、混附波发射量测、相位杂讯量测与AM/FM量测等四项新功能,以支援更有效率的研究发展与无线系统的疑难排解。

Anritsu高性能信号分析仪MS269xA系列可量测频率为50Hz至6GHz,其3D频谱分析仪功能提供了频率与信号强度对时间的3D变化资讯,最大撷取频宽高达125MHz,可稳定地检查突发信号和瞬时干扰信号。其相位杂讯量测范围从100Hz到1MHz,与以往仪器约每1分钟量测10个相位杂讯相较,新型MS269xA系列约每3秒便能囊括相同测试。

此外,该系列还提供混附波发射量测功能以支援高速混附波测试,根据设定的审验标准,可直接在萤幕上显示Pass或Fail。在混附波测试要求越严格的数位系统里,进行测试时需要整合高性能且昂贵的滤波器和放大器。不过这样的窘境已经改观,MS269xA系列拥有极佳的动态范围,使得整合低成本滤波器和放大器的混附波量测变成可能。

AM变化和FM偏移测量一直很难在one-touch功能中展现,而Anritsu高性能信号分析仪的AM量测包含了最大、最小和平均功率,而FM量测数据包含高频和低频的限制,以及平均频率,使得量测AM/FM无线电设备只要one-touch就可实现。

详情见:www.anritsu.co.jp
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