测试系统内存惠瑞捷推出V6000闪存及DRAM测试系统_我的网站

测试系统内存惠瑞捷推出V6000闪存及DRAM测试系统

点击:
中国产品客户提升本土创新力的关键是提升工具和软件的应用水平新台币产值同期2008年Q2台湾电子零组件业产值衰退13%信息系统中国汽车中国车载导航服务将加速汽车与通信产业充分融合三星显示器韩国韩国将OLED产业列为中长期发展目标器件坚固沟道IR推出新系列车用 MOSFETFUJI-NXT(M3S,M6S)测量扭矩应变一种新型钻压扭矩随钻测量传感器的特性分析操作系统手机腾讯互联网三巨头布局手机操作系统 抢夺未来市场中国美国产品李开复:Google中国4个月后再无本地化破绽
惠瑞捷(Verigy)宣布推出V6000测试系统,可在同一套自动化测试设备(ATE)机台上,测试快闪和DRAM内存,测试成本低于现有的解决方案。

多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段,包括工程测试、晶圆检测(Wafer Sort)、以及终程测试(Final Test)等。Numonyx公司并已经选用V6000,以从事其NAND组件和良品裸晶(KGD)的大量晶圆测试。

V6000系列测试系统包括V6000e,可让使用者在办公室或实验室环境中,开发内存测试程序以及量测和分析组件的特性。相较于以离线的方式使用生产测试系统,花费的成本更低,不仅能提高投入资本的回收率(ROIC),且能经济有效地快速达到量产规模。

V6000 WS晶圆测试解决方案在单次触压(one-touchdown)即可同时测试12吋的快闪或DRAM内存晶圆,以精简资本及营运开支。而V6000 FT则可在单一机台上,执行闪存、DRAM或多芯片封装(MCP)组件的终程测试。即使在测试含有快闪和DRAM内存的多芯片封装组件时,一样可透过单次插测 (single-insertion)的方式进行测试。

所有的V6000系统皆采用惠瑞捷专利申请中的Active Matrix技术,以及第六代的Tester-Per-Site架构,两者搭配可提供最低的测试成本。Active Matrix技术能进行大规模的平行测试,支持的I/O Pin超过18,000个,可程控电源供应Pin亦超过4,000个,且因大幅缩短通往脚端接口电路(Pin Electronics)的讯号路径,而能提供最佳的讯号完整性(Signal Integrity)。

相较于传统的内存自动化测试设备架构,V6000可提供四倍的平行测试能力,每支脚位的测试成本却只要原本的一半。V6000具备可扩充的交流测试效能,速度涵盖140、280、560,到最高880Mbps。

V6000是一款多功能的可扩充机台,只要更换测试程序和探针卡(Probe Card),V6000即可测试快闪或DRAM内存。藉由增加Test Site模块或Active Matrix模块的方式,就可以轻易地提高系统的性能和接脚数,完全不需要采购新的测试系统。

此外,所有的V6000测试系统皆采用相同的操作系统软件、硬件和接口,因此,随着组件由工程和特性量测阶段推进到晶圆及终程测试,使用者亦可开发和共享测试程序、以及将测试程序移转到不同的测试系统上使用。V6000采水冷式的设计,相较于气冷式的系统,所需的体积较小,消耗的能量也较少。

兰州北京公司远望谷增资2300万元连投两RFID项目三星方案智能手机芯片商攻克最后一米700元 智能机开战在即连接器电源解决方案电源互连解决方案:提升电流密度与可靠性座机采购手机中移动将启动3G手机与无线座机集采材料飞机铝合金大飞机材料产业要国产化试水处理器多媒体功能Broadcom推出超低功率1080p多媒体处理器批评新闻线索编辑瑞萨科技发布业界最小的可调式天线变容二极管传感器国内明代物联网热潮袭来 传感器厂家联合自救公司业务成本NXP能否渡过难关 分析家抱以怀疑态度

0.34147119522095 s